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zSeries - RFIC

zSeries – RFIC Chipset Test Solution

zSeries - RFIC

LitePoint 사의 zSeries-RFIC Chipset Test 구성은 2G/3G/4G 및 WLAN 용 RFIC 의 특성 및 테스트에 필요한 통합형 계측 솔루션을 제공합니다. R&D, DVT, 양산 등 고객의 테스트 요구 환경에 맞게 Flexible한 장비 구성이 가능한 PXIe type 의 장비 입니다.

LTE Advanced CA를 포함한 Carrier Aggregation test 및 WLAN/LTE interoperability 등의 측정이 가능하며, 특히 Envelope Tracking(ET) application 에서는 RFIC chipset 의 DSP function emulating 이 가능하여, chipset 의 특성 분석을 빠른시간 안에 확인 가능합니다.

zSeries-RFIC 구성은 Base-band I/Q에서 RF 까지의 chipset 개발의 단계별 개별 특성 평가를 쉽고 빠르게 진행하여, chipset 의 개발,검증에 출시까지 많은 시간을 단축 할 수 있도록 도와 드립니다.

주요 Test parameter
  • Average Power, Peck Power, Mask, Frequency Error, Symbol Clock Error, Flatness
  • Sweep EVM, Constellation, Phase Error
  • Sweep Rx Sensitivity
  • Envelope Tracking
  • WLAN/LTE Interoperability.
VSA/VSG

RF Frequency: 250 MHz to 6 GHz

VSA

RF Input Level Range : +30 dBm to Noise Floor
Analysis Bandwidth : 1 GHz
Digital I/O Port : 4-pin, +1.2 V to +3.6 V, 52 MHz

VSG

RF Output Level Range : +27 dBm to -105 dBm
Modulation Bandwidth : 500 MHz
Digital I/O Port : 4-pin, +1.2 V to +3.6 V, 52 MHz

Spectrum Analyzer

RF Frequency: 250 MHz to 20 GHz

Loopback EVM Floor (preamble-only estimation)

802.11g/n 20MHz, 2.4 GHz band : -54 dB
802.11ac 20MHz, 5 GHz band : -53.5 dB
802.11ac 40MHz, 5 GHz band : -51 dB
802.11ac 80MHz, 5 GHz band : -50 dB
802.11ac 160MHz, 5 GHz band : -47 dB

SMU

Programmable DC Power : +10V @ 3A
Current Measurement : Down to 10pA
1 or 4 channels

Programmable Logic I/O

12-pin, -2 V to +6 V, 25 mA
200 MHz clock rate
Parametric Measurement Unit
Serial interface support (MIPI RFFE, SPI, …)

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